光譜輻射儀 BTS2048-VL-TEC-X

多功能溫控高-端光譜輻照度傳遞標準分光輻射計

?冷卻溫度可控的BiTec傳感器*，測量更精確

?光譜輻照度傳遞標準

?極短的測量時間（電子快門）、高動態(tài)范圍（濾光輪

?觸發(fā)輸入和輸出、以太網和USB，用于快速數據傳輸

?帶漫射器的直接輸入光學器件，用于照度和光譜輻照度

光譜輻射儀 BTS2048-VL-TEC-X

BTS2048-VL-TEC-X 光譜輻照度傳遞標準質量

BTS2048-VL 的 BTS2048-VL-TEC-X 變體采用熱電冷卻 CCD 探測器。該設備滿足高-端二極管陣列光譜儀的所有要求，且價-格-優(yōu)惠，盡管其質-量-最-高，但仍非常適合作為光譜輻照度傳遞標準。

CCD探測器的熱電冷卻技術可最大限度地降低暗噪聲信號，并實現2微秒至60秒的積分時間。因此，BTS2048-VL-TEC-X因其高穩(wěn)定性而成為極低光強度或極低暗信號測量應用的理想之選。

其獨-特功能之一是由 Gigahertz-Optik 開發(fā)的創(chuàng)新 BiTec 傳感器，該傳感器由 V(λ) 濾波硅光電二極管和光譜輻射計單元組成。這使得它非常線性、穩(wěn)定和快速，因此是更高測量精度的保證，不會伴隨任何缺點。兩個傳感器可以獨立使用，傳感器的相互校正有利于準確性、速度和多功能性（見關于 bts 技術的文章見文章 技術的文章見文章).

用戶軟件和開發(fā)者軟件

標準 S-BTS2048 用戶軟件具有可定制的用戶界面和大量顯示和功能模塊，可在使用 Gigahertz Optik GmbH 的相應附件組件配置 BTS2048-VL-TEC-X 時激活這些模塊。 S-SDK-BTS2048 開發(fā)人員軟件用于將 BTS2048-VL-TEC-X 集成到客戶自己的軟件中。

校準

光度測量設備的一項基本質量特征是其精確且可追溯的校準。 BTS2048-VL-TEC-X 由 Gigahertz-Optik 的 ISO/IEC 17025 校準實驗室校準，該實驗室已獲得 DAkkS (D-K-15047-01-00) 的光譜響應度和光譜輻照度認證，符合 ISO/IEC 17025。校準還包括 相應的附件組件。 每臺設備都附有相應的校準證書。

一般

簡要描述

高速TE冷卻CCD光譜儀，具有寬動態(tài)范圍、低光學帶通和BiTec傳感器技術，非常適合作為光譜輻照度傳遞標準。

主要特點

緊湊堅固的設備，不帶光纖和直接輸入光學器件。BiTec探測器，帶背薄TE冷卻CCD（2048像素，1納米光學分辨率，電子快門）和帶V（λ）濾光片的溫度穩(wěn)定硅光電二極管。帶快門和衰減濾光片的濾光片輪。可提供光學帶寬校正（CIE214），但由于1 nm光學帶寬的MU貢獻率較低，因此實際上并不需要。輸入鏡頭帶有散射窗，具有余弦視場。自動PWM同步等。

測量范圍

光譜：0.2 lx 至 3E8 lx 280 nm 至 1050 nm（低飽和度的白色 LED 的最-低水平）。 積分：光度 360 nm 至 830 nm，0.1 lx 噪聲信號高達 3E8 lx

典型應用

光譜輻照度傳遞標準，適用于需要最-低測量不確定度和最高質量的應用。

校準

工廠校準。 可溯源至國際校準標準

產品

測量的數量

光譜輻照度 (W/(m2 nm)), 輻照度 (W/m2), 照度 (lx), 光譜輻射強度 (W/(sr nm)), 輻射強度 (W/sr), 發(fā)光強度 (cd), 主要 波長, 峰值波長, 中心波長, 質心波長, x, y, u′, v′, X,Y,Z, delta uv, 色溫, 顯色指數 (CRI) Ra, R1-R15, TM-30-15 , CQS, CIE-170等。 可選積分球：另外光譜通量（W/nm）和光通量（lm） 可選測角儀：另外輻射強度（W/sr）分布和發(fā)光強度（cd）分布

傳感器

符合 DIN 5032 和 CIE No. 69 的 B 級精度

根據 DIN 5032 和 CIE No. 69 的 f1`、u、f3 和 f4 精度等級 A

輸入光學元件

漫射器，余弦校正視野 (f2 ≤ 3 %)

濾波器輪

4 個位置（打開、關閉、OD1、OD2）。 用于遠程暗電流測量和動態(tài)范圍擴展。

生物技術

可以使用二極管和陣列進行并行測量，從而通過二極管對陣列進行線性校正，并通過 a*(sz(λ)) 和 F*(sz(λ)) 在線校正二極管的光譜失配。

光譜檢測器

校準不確定性

光譜輻照度響應度 (280 - 1050) nm。 標準校準 (350 - 1050) nm。 可選校準 (280 - 1050) nm。

集成時間

2 μs - 60 s        *1

光譜范圍

(280 -1050) nm

光帶寬度

1 nm

像素分辨率

~0.4 nm/Pixel

像素的數量

2048

芯片

一級冷卻高靈敏度背薄CCD芯片

ADC

16bit

峰值波長

± 0.2 nm

主導波長

± 0.5 nm           *2

Δy Δx 不確定度

± 0.0015（標準光源 A）

± 0.0020（普通 LED）

重復性 Δx 和 Δy

± 0.0001

ΔCCT

標準光源 A 30K； LED 高達 +/- 1.5 %，具體取決于 LED 光譜

帶通校正

對于1 nm的光學帶通，其實沒有必要，因為它對測量不確定性的影響不大。但是，支持數學在線帶通校正。

線性度

完-全線性化芯片 >99.6%

雜散光

2E-4           *3

基準線噪聲

5 cts     *4

信噪比

5000        *5

動態(tài)范圍

>10 級

光譜輻照度響應范圍

(1E-5 - 1E6) W/(m2nm)           *6*7

CRI（顯色指數）

Ra 和 R1 至 R15

典型測量時間

10 lx        2.0 s           *10

100 lx      200 ms      *10

1000 lx    20 ms        *10

整體檢測器

濾波器

具有精細 CIE 光度匹配的光譜響應度。 通過光譜測量數據在線校正光度匹配（光譜失配因子校正）。

測量范圍

九 (9) 個測量范圍，具有卓-越的偏移校正

測量范圍

最大可測照度值 3E8lx *7

噪聲等效照度值1E-1lx

校準

照度 ± 2,2 %

f1'(光譜不匹配)

≤ 6 %（未校正）

≤ 1.5 % (f1' a*(sz(λ)) 分別為 F*(sz(λ)) 由光譜數據校正，由 BTS 技術自動完成）

ADC

16bit

溫度范圍

無溫度補償：<0.1 %/°C<

有溫度補償：<0.03 %/°C

圖表

雜項

微處理器

32位設備控制，16位CCD陣列控制，8位光電二極管控制

接口

USB V2.0、以太網（LAN UDP協(xié)議）、RS232、RS485

數據傳輸

標準的 2048 浮點數組值，通過以太網 7 毫秒，通過 USB 2.0 140 毫秒

輸入接口

2x (0 - 25) VDC，1x 光耦合器隔離 5 V / 5 mA

輸出接口

2x 集電極開路，最大值 25 伏，最大值 500毫安

觸發(fā)器

包含觸發(fā)輸入（不同的選項、上升/下降沿、延遲等）

軟件

用戶軟件 S-BTS2048

可選軟件開發(fā)套件 S-SDK-BTS2048，用于基于 C、C++、C# 或 LabView 中的 .dll 的用戶軟件設置。

電源

帶電源：700 mA 時 DC 輸入 5V (±10 %)

帶 USB 總線 (500mA) *8

尺寸規(guī)格

103 毫米 x 107 毫米 x 52 毫米（長 x 寬 x 高）

重量

500g

安裝

三腳架和 M6 螺紋

標準：前適配器 UMPA-1.0-HL 與積分球端口框架 UMPF-1.0-HL 一起使用

SM1 變種： 配備 SM1 轉接器，可與標準 SM1 元件搭配使用。

溫度范圍

儲存：（-10 至 50）°C

操作：（10 至 30）°C *9

信息

*1 建議每次積分時間變化時執(zhí)行新的暗信號測量

*2 典型值，主波長的不確定性取決于 LED 的光譜分布

*3 典型值，在冷白寬帶 LED 峰值左側 100nm 處測量

*4 *5 典型值在 4ms 測量時間和陣列的滿量程控制下測得的平均值。平均導致 S/N 二次上升

即基礎噪聲的二次下降，例如平均到 100 倍將 S/N 提高 10 倍

*6 最-低 500/1 S/N。滿量程控制時的最大值。

*7 只允許短時間照射以避免熱損傷

*8 在 USB 連接期間，由于電流供應有限，并非所有功能都可用。沒有以太網和 TEC 冷卻

*9 大約需要溫度穩(wěn)定的設備。 25分鐘。在預熱階段執(zhí)行測量，或者如果執(zhí)行測量

在不同的溫度下，每次測量都需要暗信號測量

* 10 次測量白色 LED 和 20000 計數（信號暗）飽和度

溫度范圍

CCD芯片：≤±0.25℃